EQUIPMENT設備情報 HOME 設備情報 蛍光Ｘ線膜厚分析装置 蛍光Ｘ線膜厚分析装置 概要 製品ごとに測定ポイント、測定数のお取り決めを行い、試験成績書に記載いたします。 性能 メーカー マイクロパイオニア社製 XRF-2000 測定対象物 単層めっき、多層めっき、合金めっき 測定元素範囲 21(Sc)～92(U) 検出器 比例計数管 設備情報一覧へ
